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晶圓刻號檢驗機

可提供手動及自動款式
1. 漸昇式舉片，易於目視檢驗wafer ID.

2.可依客製化需求修改，以符合薄片晶圓的需求。

3.可適用各種晶圓尺寸。

4.內建晶舟位置指引輔助。

5.25度斜角，增強判讀效率。

6.ESD safe。

可預防灰塵因靜電而吸附之困擾

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